Personnalisation: | Disponible |
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Service après-vente: | un an |
Alimentation électrique: | un an |
Fournisseurs avec des licences commerciales vérifiées
Audité par une agence d'inspection indépendante
Étuve de laboratoire GB/T Test de l'environnement2423.1-2008 Chambres Chambre haute température programmable
Décrire le but
Cette chambre d'essai offre une haute température, basse température, humidité élevée, faible humidité, de l'environnement de simulation pour tester le caoutchouc, plastique, produits électroniques avant et après le test du matériel et le degré de réduction de résistance.La machine peut également simuler le conteneur de l'environnement pour détecter la décoloration et un rétrécissement de caoutchouc et plastique sous haute température et humidité.Test de la chaleur, froid, sec et résistance à l humidité de divers matériaux.Convient pour les batteries électroniques, électriques, des universités, instituts de recherche, Inspection and Quarantine Bureau, des produits de papier, de la nourriture, de véhicules, des pièces automobiles, métal, chimiques, matériaux de construction et d'autres industries de l'unité de contrôle de qualité d'essais en usine.
Norme correspondante :
1. Commission électrotechnique internationale standard :
IEC68-2-03 Méthode d'essai_CA_stable de la chaleur humide
IEC68-2-01 Méthode d'essai_A_froid
IEC68-2-02 Méthode d'essai_B_chaleur sèche
2. Normes :
MIL-STD-810F-507.4 de l'humidité
MIL-STD-810F-501.4 haute température
MIL-STD-810F-502.4 basse température
MIL-STD 1004.2883C Méthode d'essai Épreuve de cycles de température et humidité
MIL-STD810D Méthode d'essai 502.2
MIL-STD810 méthode 507.2 procédure de test 3
3. La Japanese Industrial Standard :
JIS C-3-198760068-2 Méthode de test Ca : constante de la chaleur humide
JIS C-2-199560068-2 Méthode de test B:la chaleur sèche
JIS C-1-199560068-2 Méthode de test A:basse température
4. USA Semiconductor Industry Standard :
JESD22-A101-B-2004 température constante et test d'humidité
JESD22-A103-C-2004 Test de stockage à haute température
119-2004 JESD22-d'un test de stockage à basse température
Modèle | B-T-120 | B-T-225 | B-T-504 | B-T-1000 |
(A~D) | (A~D) | (A~D) | (A~D) | |
L'intérieur de la taille lxhxp (cm) | 45x60x45 | 60x75x50 | 70x90x80 | 100x100x100 |
Déviation d'humidité | ± 2,5 % HR | |||
Plage de température | -70 degré ~ +100(150) degré | |||
(A:-40 degré B:-50 -60 degré Degré C:D:-70 degré) | ||||
Plage d'humidité | 20%~98%R.H. | |||
Les fluctuations de température | ± 0,5 ºC | |||
Écart de température | ± 2,0 ºC | |||
Chauffage / Temps de refroidissement | Environ 3,0/min(chaleur), environ 1,0/min(cool) | |||
Matériau intérieur | SUS#304plaque en acier inoxydable | |||
Matériau isolant | À haute température haute densité à l'ester éthylique acide aminé de la mousse isolante de matériaux, | |||
La capacité du programme | (Touchez type) 1. Programme : 10 groupes maximum 2. Nombre de segments : jusqu'à 120 segments. 3. Nombre de cycles : un maximum de boucle infinie |
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Protection | 1. Problème alarmant, indiquant la raison de la faute et la façon de résoudre le problème 2. Panne de courant de la fonction de protection 3. Supérieure et inférieure de la fonction de protection de la température 4. Fonction de synchronisation de calendrier (démarrage automatique et arrêt automatique de fonctionnement) 5. Fonction auto-diagnostic |
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L'alimentation | 220VAC±10 % 50/60 Hz et 380VCA±10 % 50/60 Hz |