Caractéristiques du produit (ATX-3000) |
Modèle | ATX-3064 | ATX-3128 | ATX-3256 | ATX-3512 |
Max. Points de test | 64 | 128 | 256 | 512 |
Numéro de port de test | 2 | 4 | 8 | 16 |
Type de port de test | Connexion d'embase de type boucle 64 broches Omron (XG4A-6434) |
Contenu du test | Test de continuité | √ |
Test de tension de tenue | √ |
Test de résistance d'isolement | √ |
Isolation à 2 fils Test de résistance | √ |
Isolation à 4 fils Test de résistance | √ |
Test de déconnexion transitoire | √ |
Recherche de PIN | √ |
Interface utilisateur | Affichage | 5.5 pouces, 1080P AMOLED |
Fonctionnement | fonctionnement de l'écran tactile (la souris et le clavier externes peuvent être connectés) |
Système d'exploitation | Windows 10 |
Langue | Chinois simplifié |
Port de stockage | USB |
Port de communication sans fil | WIFI |
Port de contrôle | RS232/USB |
RTC (horloge en temps réel) | disponible |
Batterie RTC | durée de vie 3 ans |
Imprimante | Port USB imprimante universelle/imprimante sans fil, par exemple : hp427fdw, hpM126nw, etc |
Temps de rétention des données | Minimum 5 ans, température:-20ºC ~50ºC, humidité: 40% |
Tension d'alimentation | 100 V CA-240 V/50 à 60 Hz |
Dimensions globales du dispositif principal (Largeur*hauteur*profondeur) | 450*135*467mm |
Dimensions générales du périphérique esclave (Largeur*hauteur*profondeur) | 450*135*467mm |
Poids du dispositif maître | environ 15,6 kg | environ 15,6 kg | environ 15,6 kg | environ 15,6 kg |
Poids du périphérique esclave | environ 13,1 kg | environ 15,1 kg | environ 19,1 kg | environ 38,2 kg |
Conditions environnementales | Température de fonctionnement : 0 à 45 ºC ; température de stockage : -20 ºC ~50 ºC ; humidité de fonctionnement : 5 % à 70 % HR, sans condensation |
Spécifications/Paramètres de test |
Test de continuité | Tension d'essai | 5 V CC max, ±5 % |
Courant de test | 1 a max, ±1 % |
Plage de résistance | 0,05 Ω~10 kΩ (par défaut 500 Ω), ±5 % |
Test de tension de tenue | Tension d'essai | 50 V~760 V C.A., ±(0.5 % + 1 V) |
Plage de courant de fuite | 0,005 mA~5 mA, ±(1% + 0,005 mA) |
Pressurisation | Pressurisation AVM |
Heure du test | 2s~999 s/circuit (réglage manuel disponible) |
Test de résistance d'isolement | Tension d'essai | 50 V~1010 V C.C., ±(0.5 % + 1 V) |
Plage de résistance d'isolation | 10 KΩ~10 MΩ,± (5 % + 2 KΩ) 10 MΩ~1 000 MΩ, ±(10%+1 M) 1 000 MΩ~2 000 MΩ, ±(20 % + 100 M) |
Pressurisation | Pressurisation AVM |
Heure du test | 2s~999 s/circuit (réglage manuel disponible) |
Test de résistance | Tension d'essai | 10 V CC max (10 UA, 100 UA, 1 mA) 5 V CC max (10 mA, 100 mA, 1 a) |
Courant de test | 10 UA, 100 UA, 1 mA, 10 mA, 100 mA, 1 A. |
Plage de résistance | 0,001 Ω~1 MΩ |
Précision du test | Maj | Echelle de plein Portée | Résolution | Précision | Courant d'excitation |
1 Ω | 1,1000 Ω | 0,0001 Ω | ±(1% + 0,002 Ω) | 1 a±20 mA |
10 Ω | 11,000Ω | 0,001 Ω | ±(1% + 0,02 Ω) | 100 mA±2 mA |
Test de résistance | Précision du test | 100 Ω | 1 10,00 Ω | 0,01 Ω | ±(1% + 0,2 Ω) | 10 mA±0,2 mA |
1 kΩ | 1,1000 kΩ | 0,0001 kΩ | ±(1%+2 Ω) | 1 mA±0,02 mA |
10 kΩ | 11,000 kΩ | 0,001 kΩ | ±(1% + 20 Ω) | 100 UA ±2 UA |
100 kΩ | 110,00 kΩ | 0,01 kΩ | ±(1% + 0,2 kΩ) | 10 UA ±0,2 UA |
1 MΩ | 1,1 MΩ | 0,1 kΩ | ±(5%+2 kΩ) | 10 UA ±0,2 UA |
Test de déconnexion transitoire | Mode de test | canal unique |
Largeur de test de transitoire Déconnexion | 10 ms. |
Heure du test | 2s~999s(ou jusqu'à ce que le bouton STOP test soit enfoncé) |