BestScope BS-6024RF Industrie réfléchie recherche professionnelle microscope métallurgique vertical

• Garantie: 3 ans
• Grossissement: 500-1000X
• Type: Métallographique
• Nombre de cylindres: ≥ Trois
• Mobilité: De Bureau
• Effet stéréoscopique: Sans Effet stéréoscopique
• N° de Modèle.: BS-6024RF
• Kind of Light Source: illumination réfléchie
• Forme: Lentille Cylindrique
• Usage: Enseignement, Recherche, métallurgique
• Principe: Optique
• Principe de Optics: système optique à correction de couleur infinie
• oculaire: sw10x/25 mm
• objectif: 5x, 10x, 20x, 50x, 100x
• tourelle: sextuple vers l′arrière
• mise au point: division fine 1 μm
• Paquet de Transport: Standard Export Carton with Strong Sponge
• Spécifications: 66*59*33
• Marque Déposée: BestScope
• Origine: Beijing, China
• Capacité de Production: 1000/Month

Description de Produit

Introduction

Les microscopes métallurgiques droits de la série BS-6024 ont été développés pour la recherche avec un certain nombre de conceptions innovantes en apparence et fonctions, avec un large champ de vision, des objectifs métallurgiques haute définition et semi-apochromatiques lumineux/foncé et un système d'exploitation ergonomique, ils sont nés pour fournir une solution de recherche parfaite et développer un nouveau modèle de domaine industriel.

Fonctionnalités

1. Excellent système optique infini.
 Grâce à l'excellent système optique infini, le microscope métallurgique vertical de la série BS-6024 offre des images haute résolution, haute définition et avec correction des aberrations chromatiques qui peuvent afficher très bien les détails de votre échantillon.
2. Conception modulaire.
Les microscopes de la série BS-6024 ont été conçus avec modularité pour répondre à diverses applications industrielles et scientifiques des matériaux. Il offre aux utilisateurs la flexibilité de créer un système pour des besoins spécifiques.

3. FONCTION ECO.
La lampe du microscope s'éteint automatiquement après 15 minutes de départ de l'opérateur. Il permet non seulement d'économiser de l'énergie, mais également d'économiser la durée de vie de la lampe.

4. Confortable et facile à utiliser.

(1) objectifs de la semi-APO et de l'APO du plan infini NIS45.
Grâce à son verre transparent et à sa technologie de revêtement avancée, l'objectif NIS45 peut fournir des images haute résolution et reproduire avec précision la couleur naturelle des échantillons. Pour les applications spéciales, une variété d'objectifs est disponible, y compris la polarisation et la longue distance de travail.
 

(2) centralisateur informatique de bord Nomarski.
Avec le nouveau module DIC, la différence de hauteur d'un échantillon qui ne peut pas être détectée avec un fond clair devient une image 3D ou de relief. Il est idéal pour l'observation des particules conductrices de l'écran LCD et des rayures de surface du disque dur, etc
 

(3) système de mise au point.
Pour que le système soit adapté aux habitudes de fonctionnement des opérateurs, le bouton de mise au point et de mise au point peut être réglé sur le côté gauche ou sur le côté droit. Cette conception rend l'utilisation plus confortable.
 

(4) tête trinoculaire inclinable Ergo.
Le tube oculaire peut être réglable de 0 ° à 35 °. Le tube trinoculaire peut être connecté à un appareil photo reflex numérique et à un appareil photo numérique, avec un diviseur de faisceau à 3 positions (0:100, 100:0, 80:20), la barre de séparation peut être montée de chaque côté selon les besoins de l'utilisateur.
 

5. Diverses méthodes d'observation.

 

Fond noir (Wafer) Le fond noir permet d'observer la lumière diffusée ou diffusée de l'échantillon. Tout élément qui n'est pas plat reflète cette lumière tandis que tout ce qui est plat semble sombre, de sorte que les imperfections se distinguent clairement. L'utilisateur peut identifier l'existence même d'une petite rayure ou d'un défaut jusqu'au niveau de 8 nm, inférieur à la limite de puissance de résolution d'un microscope optique. Le fond noir est idéal pour détecter les rayures ou défauts minuscules sur un échantillon et examiner les échantillons de surface miroir, y compris les plaquettes.

Contraste d'interférence différentiel (particules conductrices) La CIB est une technique d'observation microscopique dans laquelle la différence de hauteur d'un échantillon non détectable avec un fond clair devient une image de relief ou en trois dimensions avec un contraste amélioré. Cette technique utilise une lumière polarisée et peut être personnalisée avec un choix de trois prismes spécialement conçus. Il est idéal pour examiner des échantillons présentant des différences de hauteur très infimes, notamment des structures métallurgiques, des minéraux, des têtes magnétiques, des milieux à disque dur et des surfaces de cachets polies.

 

Observation de la lumière transmise (LCD) Pour les échantillons transparents tels que les écrans LCD, les plastiques et les matériaux en verre, l'observation de la lumière transmise est possible à l'aide d'une variété de condensateurs. L'examen d'un échantillon dans un fond clair transmis et une lumière polarisée peut être réalisé dans un seul système pratique.

Lumière polarisée (amiante) Cette technique d'observation microscopique utilise une lumière polarisée générée par un ensemble de filtres (analyseur et polariseur). Les caractéristiques de l'échantillon affectent directement l'intensité de la lumière réfléchie dans le système. Il convient aux structures métallurgiques (c.-à-d., le patron de croissance du graphite sur le fer de coulée nodulaire), aux minéraux, aux LCD et aux matériaux semi-conducteurs.

Application

Les microscopes de la série BS-6024 sont largement utilisés dans les instituts et les laboratoires pour observer et identifier la structure de divers métaux et alliages. Ils peuvent également être utilisés dans l'industrie électronique, chimique et semi-conducteur, comme les plaquettes, la céramique, les circuits intégrés, les puces électroniques, Cartes de circuits imprimés, panneaux LCD, film, poudre, toner, fils, fibres, revêtements plaqués, autres matériaux non métalliques, etc.

Spécifications

Élément	Spécifications		BS-6024RF	BS-6024TRF
Système optique	Système optique à correction des couleurs NIS45 Infinite (longueur du tube : 200 mm)		*	*
Tête de visualisation	Tête trinoculaire inclinable Ergo, réglable de 0 à 35°, distance interpupillaire de 47 à 78 mm ; rapport de fractionnement oculaire:trinoculaire=100:0 ou 20:80 ou 0:100		*	*
	Seidentopf tête trinoculaire, inclinée à 30°, distance interpupillaire : 47 mm-78 mm; rapport de fractionnement oculaire:trinoculaire=100:0 ou 20:80 ou 0:100		○	○
	Seidentopf Binoculaire tête, inclinée à 30°, distance interpupillaire : 47 mm-78 mm		○	○
Oculaire	Oculaire plan de champ super large SW10X/25mm, dioptrique réglable		*	*
	Oculaire plan de champ super large SW10X/22mm, dioptrique réglable		○	○
	Oculaire plan de champ extra large EW12.5X/16mm, dioptrique réglable		○	○
	Oculaire plan champ large WF15X/16 mm, dioptre réglable		○	○
	Oculaire plan champ large WF20X/12mm, dioptre réglable		○	○
Objectif	NIS45 objectif semi-APO du plan LWD infini (BF et DF)	5X/NA=0.15, WD=20 MM	*	*
		10X/NA=0.3, WD=11MM	*	*
		20X/NA=0.45, WD=3,0 MM	*	*
	NIS45 objectif APO du plan LWD infini (BF et DF)	50X/NA=0.8, WD=1,0 MM	*	*
		100X/NA=0.9, WD=1,0 MM	*	*
	NIS60 objectif semi-APO du plan LWD infini (BF)	5X/NA=0.15, WD=20 MM	○	○
		10X/NA=0.3, WD=11MM	○	○
		20X/NA=0.45, WD=3,0 MM	○	○
	NIS60 objectif AP du plan LWD infini (BF)	50X/NA=0.8, WD=1,0 MM	○	○
		100X/NA=0.9, WD=1,0 MM	○	○
Tourelle	Couvre-nez arrière souple (avec fente pour centralisateur informatique de bord)		*	*
Condenseur	CONDENSATEUR LWD N.A.0.65		○	*
Illumination transmise	Lampe halogène 24 V/100 W, éclairage Kohler, avec filtre ND6/ND25		○	*
	Lampe S-LED 3 W, préréglage central, intensité réglable		○	○
Illumination réfléchie	Lampe halogène 24 V/100 W à lumière réfléchie, éclairage Koehler, avec tourelle à 6 positions		*	*
	Boîtier de lampe halogène 100 W.		*	*
	Lumière réfléchie avec lampe LED de 5 W, éclairage Koehler, avec tourelle à 6 positions		○	○
	Module BF1 Bright Field		○	○
	Module BF2 Bright Field		*	*
	Module DF Dark Field		*	*
	Filtre ND6, ND25 et filtre de correction des couleurs intégrés		○	○
FONCTION ECO	FONCTION ECO avec bouton ECO		*	*
Mise au point	Mise au point coaxiale micro et micro-axiale basse position, division fine 1 μm, plage de déplacement 35 mm		*	*
Max. Hauteur de l'échantillon	76 mm		*
	56mm			*
Étape	Platine mécanique à double couche, taille 210 mm x 1 0mm ; plage de déplacement 105 mm x 105 mm (poignée droite ou gauche) ; précision : 1 mm ; avec surface dure oxydée pour empêcher l'abrasion, la direction y peut être verrouillée		*	*
	Porte-plaquettes : peut être utilisé pour contenir des plaquettes de 2", 3", 4"		○	○
Kit centralisateur informatique de bord	Kit CIB pour éclairage réfléchi (peut être utilisé pour les objectifs 10X, 20X, 50X, 100X)		○	○
Kit de polarisation	Polariseur pour éclairage réfléchi		○	○
	Analyseur pour éclairage réfléchi, rotatif de 0 à 360°		○	○
	Polariseur pour éclairage transmis			○
	Analyseur pour l'éclairage transmis			○
Autres accessoires	ADAPTATEUR MONTURE C 0,5X		○	○
	1 ADAPTATEUR monture C.		○	○
	Couvercle anti-poussière		*	*
	Cordon d'alimentation		*	*
	Lame d'étalonnage 0,01 mm		○	○
	Presse-échantillons		○	○

Remarque : * tenue standard, ○ en option

Schéma du système