Garantie: | 3 ans |
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Grossissement: | 50×-1000× |
Nombre de cylindres: | ≥ Trois |
Mobilité: | De Bureau |
Kind of Light Source: | Lumière ordinaire |
Forme: | Lentille Cylindrique |
Fournisseurs avec des licences commerciales vérifiées
Fond noir (Wafer) Le fond noir permet d'observer la lumière diffusée ou diffusée de l'échantillon. Tout élément qui n'est pas plat reflète cette lumière tandis que tout ce qui est plat semble sombre, de sorte que les imperfections se distinguent clairement. L'utilisateur peut identifier l'existence même d'une petite rayure ou d'un défaut jusqu'au niveau de 8 nm, inférieur à la limite de puissance de résolution d'un microscope optique. Le fond noir est idéal pour détecter les rayures ou défauts minuscules sur un échantillon et examiner les échantillons de surface miroir, y compris les plaquettes. |
Contraste d'interférence différentiel (particules conductrices) La CIB est une technique d'observation microscopique dans laquelle la différence de hauteur d'un échantillon non détectable avec un fond clair devient une image de relief ou en trois dimensions avec un contraste amélioré. Cette technique utilise une lumière polarisée et peut être personnalisée avec un choix de trois prismes spécialement conçus. Il est idéal pour examiner des échantillons présentant des différences de hauteur très infimes, notamment des structures métallurgiques, des minéraux, des têtes magnétiques, des milieux à disque dur et des surfaces de cachets polies. |
Observation de la lumière transmise (LCD) Pour les échantillons transparents tels que les écrans LCD, les plastiques et les matériaux en verre, l'observation de la lumière transmise est possible à l'aide d'une variété de condensateurs. L'examen d'un échantillon dans un fond clair transmis et une lumière polarisée peut être réalisé dans un seul système pratique. |
Lumière polarisée (amiante) Cette technique d'observation microscopique utilise une lumière polarisée générée par un ensemble de filtres (analyseur et polariseur). Les caractéristiques de l'échantillon affectent directement l'intensité de la lumière réfléchie dans le système. Il convient aux structures métallurgiques (c.-à-d., le patron de croissance du graphite sur le fer de coulée nodulaire), aux minéraux, aux LCD et aux matériaux semi-conducteurs. |
Élément | Spécifications | BS-6024RF | BS-6024TRF | |
Système optique | Système optique à correction des couleurs NIS45 Infinite (longueur du tube : 200 mm) | * | * | |
Tête de visualisation | Tête trinoculaire inclinable Ergo, réglable de 0 à 35°, distance interpupillaire de 47 à 78 mm ; rapport de fractionnement oculaire:trinoculaire=100:0 ou 20:80 ou 0:100 | * | * | |
Seidentopf tête trinoculaire, inclinée à 30°, distance interpupillaire : 47 mm-78 mm; rapport de fractionnement oculaire:trinoculaire=100:0 ou 20:80 ou 0:100 | ○ | ○ | ||
Seidentopf Binoculaire tête, inclinée à 30°, distance interpupillaire : 47 mm-78 mm | ○ | ○ | ||
Oculaire | Oculaire plan de champ super large SW10X/25mm, dioptrique réglable | * | * | |
Oculaire plan de champ super large SW10X/22mm, dioptrique réglable | ○ | ○ | ||
Oculaire plan de champ extra large EW12.5X/16mm, dioptrique réglable | ○ | ○ | ||
Oculaire plan champ large WF15X/16 mm, dioptre réglable | ○ | ○ | ||
Oculaire plan champ large WF20X/12mm, dioptre réglable | ○ | ○ | ||
Objectif | NIS45 objectif semi-APO du plan LWD infini (BF et DF) | 5X/NA=0.15, WD=20 MM | * | * |
10X/NA=0.3, WD=11MM | * | * | ||
20X/NA=0.45, WD=3,0 MM | * | * | ||
NIS45 objectif APO du plan LWD infini (BF et DF) | 50X/NA=0.8, WD=1,0 MM | * | * | |
100X/NA=0.9, WD=1,0 MM | * | * | ||
NIS60 objectif semi-APO du plan LWD infini (BF) | 5X/NA=0.15, WD=20 MM | ○ | ○ | |
10X/NA=0.3, WD=11MM | ○ | ○ | ||
20X/NA=0.45, WD=3,0 MM | ○ | ○ | ||
NIS60 objectif AP du plan LWD infini (BF) | 50X/NA=0.8, WD=1,0 MM | ○ | ○ | |
100X/NA=0.9, WD=1,0 MM | ○ | ○ | ||
Tourelle | Couvre-nez arrière souple (avec fente pour centralisateur informatique de bord) | * | * | |
Condenseur | CONDENSATEUR LWD N.A.0.65 | ○ | * | |
Illumination transmise | Lampe halogène 24 V/100 W, éclairage Kohler, avec filtre ND6/ND25 | ○ | * | |
Lampe S-LED 3 W, préréglage central, intensité réglable | ○ | ○ | ||
Illumination réfléchie | Lampe halogène 24 V/100 W à lumière réfléchie, éclairage Koehler, avec tourelle à 6 positions | * | * | |
Boîtier de lampe halogène 100 W. | * | * | ||
Lumière réfléchie avec lampe LED de 5 W, éclairage Koehler, avec tourelle à 6 positions | ○ | ○ | ||
Module BF1 Bright Field | ○ | ○ | ||
Module BF2 Bright Field | * | * | ||
Module DF Dark Field | * | * | ||
Filtre ND6, ND25 et filtre de correction des couleurs intégrés | ○ | ○ | ||
FONCTION ECO | FONCTION ECO avec bouton ECO | * | * | |
Mise au point | Mise au point coaxiale micro et micro-axiale basse position, division fine 1 μm, plage de déplacement 35 mm | * | * | |
Max. Hauteur de l'échantillon | 76 mm | * | ||
56mm | * | |||
Étape | Platine mécanique à double couche, taille 210 mm x 1 0mm ; plage de déplacement 105 mm x 105 mm (poignée droite ou gauche) ; précision : 1 mm ; avec surface dure oxydée pour empêcher l'abrasion, la direction y peut être verrouillée | * | * | |
Porte-plaquettes : peut être utilisé pour contenir des plaquettes de 2", 3", 4" | ○ | ○ | ||
Kit centralisateur informatique de bord | Kit CIB pour éclairage réfléchi (peut être utilisé pour les objectifs 10X, 20X, 50X, 100X) | ○ | ○ | |
Kit de polarisation | Polariseur pour éclairage réfléchi | ○ | ○ | |
Analyseur pour éclairage réfléchi, rotatif de 0 à 360° | ○ | ○ | ||
Polariseur pour éclairage transmis | ○ | |||
Analyseur pour l'éclairage transmis | ○ | |||
Autres accessoires | ADAPTATEUR MONTURE C 0,5X | ○ | ○ | |
1 ADAPTATEUR monture C. | ○ | ○ | ||
Couvercle anti-poussière | * | * | ||
Cordon d'alimentation | * | * | ||
Lame d'étalonnage 0,01 mm | ○ | ○ | ||
Presse-échantillons | ○ | ○ |
Fournisseurs avec des licences commerciales vérifiées