Tous les métaux précieux en or Bijoux or Bureau Xrf Spectromètre d′or de l′analyseur Machine d′essais

• Service après-vente: 1 an de service
• Demande: Appareils de Laboratoire
• Garantie: 1 an de service
• Méthode de détection: Spectrophotofluoromètre
• Avantage: High Sensitive
• Les longueurs d′onde: Spectromètre Infrarouge
• N° de Modèle.: DW-EDX3000
• Certificat: CE
• précision de mesure: 0.05 % (≥96 %)
• plage d′analyse: 1 ppm-99.99 %
• gamme analytique d′éléments: les éléments allant du magnésium (mg) à l′uranium (u)] peuvent b.
• éléments de détection simultanés: analyse simultanée de 40 éléments
• système de micro-ordinateur: mémoire système : 1g ; support maximum stocké étendu
• la plage de contenu: ppm ~ 99.99 %
• le temps de détection: 1-60 secondes (résultats d′un rapport d′une seconde)
• détecteur: détecteur à semi-conducteur à broche si
• objet de mesure: poudre, solide et liquide
• temps de mesure: (60 à 300) s
• plage de température ambiante: (15-30)T)
• humidité relative: w70 %
• Paquet de Transport: Paper Carton
• Marque Déposée: DRAWELL
• Origine: Chine
• Code SH: 9027300090
• Capacité de Production: 300 Piece/Month

Description de Produit

description du produit

L'énergie dispersive spectromètre de fluorescence des rayons X
(Pour tous les métaux précieux en or Bijoux)

Spécifications techniques
 

Précision de mesure	0,05 %(≥96 %)
Plage d'analyse	1 ppm-99.99 %
Gamme d'analyse des éléments	Plus de 60 éléments de potassium (K) à l'uranium (U)
Objet de mesure	En poudre, liquide et solide
Temps de mesure	(60~300)s
Plage de température ambiante	(15-30)t)
Humidité relative	W70%
Poids	30kg
Tension de fonctionnement	AC 110V/220V
La configuration	Échantillon unique chambre
	Si la broche de détecteur de semi-conducteurs
	Circuit de l'amplificateur
	Haute et Basse tension d'alimentation
	Tube à rayons X
	Non la chambre à vide

Caractéristique des rayons X de l'élément
Chaque élément émet des rayons X à son propre niveau d'énergie lorsqu'excités. Cela est caractéristique de rayons X et a appelé la fluorescence de rayons X. Il est le fondement de l'analyse.
La diffusion
Il est le fond du spectre.

 

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