• Film analyse cristalline structure du matériau machine XRD diffractomètre à rayons X.
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Film analyse cristalline structure du matériau machine XRD diffractomètre à rayons X.

After-sales Service: Yes
Warranty: 1 Year
détecter le matériau: poudre
automatique: semi-automatique
application: Powder or Film
diamètre: 1

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Société Commerciale

Info de Base.

principe
diffraction des rayons x.
longueur
100 to 800mm
poids
moins de 20 kg
Paquet de Transport
Wooden Case
Spécifications
customized
Marque Déposée
dd
Origine
Dandong
Code SH
9099210000

Description de Produit



Diffractomètre DX-27miniX-ray  
Dessinateur  de la    norme industrielle du diffractomètre à rayons X de Chine


 
Film Crystalline Analysis Material Structure Xrd Machine X Ray Diffractometer
Présentation
Le diffractomètre à rayons X de paillasse DX-27mini est
une méthode analytique multi-usage par diffraction des poudres
instrument qui a spécifiquement conçu et
développé pour la production industrielle et la qualité
contrôle. DX-27mini offre beaucoup - dans un très
conception compacte, particulièrement adaptée au catalyseur,
dioxyde de titane, ciment, pharmaceutique et
autres industries de fabrication de produits.

Application
 
Identification de phase dans des échantillons inconnus
 
Analyse quantitative des phases connues dans
échantillons mélangés
Analyse de Rievtveld
  
 
Puissance Générateur de rayons X à semi-conducteurs : 600 W (40 kV, 15 mA).
Fiabilité : <0.005 %
Tube à rayons X. Tube à rayons X Cermet, cible Cu, puissance: 2,4 kW, foyer: 1 x 10 mm
Refroidissement par eau (débit d'eau > 2 l/min)
Goniomètre Exemple de structure horizontale θs-θd
Rayon du cercle de diffraction 150 mm
Plage de mesure -3 ~150°
Mode de balayage Pas à pas, OMG
Angle de largeur de pas minimum 0.0001°
Répétabilité de l'angle 0.0005°
Linéarité de l'angle de diffraction <0.02° (échantillon standard, dans le spectre complet)
Détecteur Détecteur proportionnel fermé Détecteur à matrice de semi-conducteurs
Taux de comptage linéaire maximal 5×105CPS 9×107CPS
Résolution énergétique =25 % =1keV
Dose de diffusion =1 μSv/h (en dehors du dispositif de protection contre les rayons X)
Stabilité totale =0.5 %
Dimensions 640×480×770 MM (L×P×H)
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

Fonctionnalités


•    le générateur de rayons X haute tension à haute fréquence améliore non seulement la stabilité de  l'instrument, mais  assure également la répétabilité des  données mesurées.
•   les  bras θs et θd du goniomètre  sont  entraînés  par   servomoteur  +    technologie de contrôle de codage optique. La  linéarité de l'angle de diffusion est inférieure à 0.02° dans la plage de mesure de l'angle de diffraction.
•      la protection contre les rayons diffusés  est plus sûre  et  plus  fiable; la   porte de protection contre les rayonnements  est automatiquement  interprotégée  contre l'ouverture lorsque l'échantillon est mesuré. Dans tous les cas, les opérateurs peuvent être protégés contre les   rayonnements diffusés.
•   configurer le  tube  à rayons X en céramique métallique le plus avancé pour assurer une longue  durée de vie .
•   taille compacte  peut  être  montée  sur   la paillasse sans avoir besoin d' un environnement de laboratoire spécifique.  Simp-  le pour utiliser, utiliser et entretenir.

  Logiciel de commande XRD  et  THCMXPD


Peut fonctionner sous Windows 10 64 bits, contrôler automatiquement le  diffractomètre à rayons X ; collecter les données de diffraction au format formASC
Fichier de données de code à enregistrer ; le traitement du fichier de données inclut :    détection automatique des pics, recherche manuelle des pics, inten-  sité intégrée, hauteur de pic, centre de gravité, soustraction d'arrière-plan,  lissage, agrandissement de la forme du pic, dessin multiple,
calcul de demi-hauteur, impression de spectre.



Le logiciel de traitement des données par diffraction THCMXPD est un logiciel de     traitement des données XRD complet, qui peut effectuer l' analyse suivante :
•    analyse de phase qualitative : vérification rapide,  recherche de classification, recherche de phase, analyse de solution solide.
•    analyse quantitative de phase : l'  analyse quan- titive de l'ajustement du spectre complet qui n'implique pas la structure cristalline est  une méthode novatrice et, en même temps, la  taille du grain des différentes directions cristallines peut être obtenue


Applications
Le DX-27mini peut être adapté de manière flexible à l'analyse qualitative et quantitative des matériaux polycristallins. Dans  l'analyse qua- litative, les mesures instrumentales sont comparées aux bases de données de phase connues pour identifier les données inconnues
structures. Dans l'analyse quantitative, les caractéristiques du  mélange solide sont utilisées pour déterminer le relati-
teneur en ve du  composé cristallin ou de la phase non cristallisée.


Film Crystalline Analysis Material Structure Xrd Machine X Ray Diffractometer
Film Crystalline Analysis Material Structure Xrd Machine X Ray Diffractometer


Film Crystalline Analysis Material Structure Xrd Machine X Ray Diffractometer
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