Microscope à balayage à semi-conducteur convivial pour les étudiants

• After-sales Service: 1 Year
• Warranty: 1 Year
• Magnification: >1000X
• Type: Video
• Number of Cylinder: Binoculars
• Mobility: Desktop
• N° de Modèle.: LS AFM
• Stereoscopic Effect: Stereoscopic Effect
• Kind of Light Source: Ordinary Light
• Shape: Single-lens
• Usage: Teaching
• Principle: Optics
• Principle of Optics: Polarizing Microscope
• taille de l′échantillon: φ≤90 mm,h≤20 mm
• plage d′acquisition max: x/y : 20 um, z : 2 um
• résolution: x/y:160;0.2 nm, z: 0,05 nm
• vitesse de balayage: 0,6 h à 4,34 h.
• type de feedback: dsp - retour numérique
• connexion pc: usb2.0
• fenêtres: compatible avec windows 98/2000/xp/7/8
• angle de balayage: aléatoire
• mouvement de l′échantillon: 0 à 20 mm
• points de données: 256×256,512×512
• Paquet de Transport: Carton and Wooden
• Spécifications: 55 lbs
• Marque Déposée: flyingman
• Origine: China
• Code SH: 9011800090
• Capacité de Production: 100pieces/Month

Description de Produit

Suzhou FlyingMan Precision instruments Co., Ltd. Offre un microscope à balayage de type semi-conducteur convivial à des fins éducatives. Idéal pour l'analyse des semi-conducteurs et l'utilisation en classe.

Description du produit

Caractéristiques du microscope à force atomique

Fonctionnalités

Le premier microscope industriel à grande échelle en Chine à réaliser la production commerciale

• La taille et le poids des échantillons sont presque illimités, ce qui les rend particulièrement adaptés aux tests de grands échantillons tels que les plaquettes, les réseaux ultra-grands et le verre optique


• L'étape d'échantillonnage est très évolutive et très pratique pour une combinaison de plusieurs instruments pour une détection in situ


• Balayage automatique en un clic, capable de programmer plusieurs points de test pour une détection rapide et automatisée


• Maintenez l'échantillon immobile pendant l'acquisition de l'image et faites fonctionner la sonde pour réaliser l'imagerie de mesure de mouvement 3D XYZ


• Conception de la tête de lecture du statif, base en marbre, étape d'adsorption sous vide


• Des solutions intégrées d'amortissement mécanique des vibrations et de protection contre le bruit réduire les niveaux sonores du système


• Méthode d'insertion d'aiguille intelligente et rapide pour la détection automatique de céramiques piézoélectriques sous contrôle moteur, protégeant les sondes et les échantillons


• Éditeur utilisateur de correction non linéaire du scanner, avec une nano-caractérisation et une précision de mesure supérieure à 98 %

Logiciel

1. Deux types de pixels d'échantillonnage au choix : 256×256, 512×512


2. Exécuter la fonction de déplacement et de coupe de la zone d'acquisition, choisir une zone d'échantillon intéressante


3. Balayer l'échantillon à un angle aléatoire au début


4. Régler le système de détection de point laser en temps réel


5. Choisissez et définissez une couleur différente pour l'image numérisée dans la palette


6. Prend en charge l'étalonnage linéaire de la moyenne et du décalage en temps réel pour titre de l'échantillon


7. Prend en charge l'étalonnage de la sensibilité du scanner et l'étalonnage automatique du contrôleur électronique


8. Prend en charge l'analyse hors ligne et le processus d'image échantillon

Nom de la société: Suzhou FlyingMan Precision instruments Co., Ltd

 
 

Paramètres du produit

Mode de travail	Mode contact, mode de taraudage	Z Table de levage	Commande d'entraînement de moteur pas à pas avec une taille de pas minimum de 10 nm
Mode optionnel	Force de friction/force latérale, amplitude/phase, force magnétique/force électrostatique	Z course de levage	20 mm (25 mm en option)
Forcer la courbe de spectre	Courbe de force F-Z, courbe RMS-Z.	Positionnement optique	OBJECTIF OPTIQUE 10X
Méthode de numérisation XYZ	Balayage XYZ piloté par sonde	Appareil photo	CMOS numérique 5 mégapixels
Plage d'acquisition XY	Supérieure à 100 UM × 100 UM	Vitesse de balayage	0,6 Hz à 30 Hz
Angle de balayage Z.	Supérieur à 10 UM	Angle de balayage	0 à 360°
Résolution de numérisation	Horizontal 0,2 nm, vertical 0,05 nm	Environnement d'exploitation	Windows 10 système d'exploitation
XY Etape d'échantillonnage	Commande d'entraînement de moteur pas à pas, avec une précision de mouvement de 1 UM	Interface de communication	USB2.0/3.0
XY Déplacement de la vitesse	200×200 mm (en option 300×300 mm)	Structure de l'instrument	Tête d'acquisition du statif, base en marbre
Plate-forme de chargement des échantillons	Ø 200 mm (en option 300 mm)	Méthode d'amortissement	Protection acoustique flottante à absorption des chocs (plate-forme active d'absorption des chocs en option)
Poids de l'échantillon	≤20 kg

Paramètres techniques principaux

Suzhou FlyingMan Precision instruments Co., Ltd. A lancé le FSM en 2013. Nous mettons l'accent sur la création d'instruments pour les laboratoires et les usines au cours des 9 dernières années. Nous proposons un microscope à force atomique conçu à des fins éducatives et d'inspection des plaquettes.

Le FSM bénéficie du meilleur rapport coût/prix du marché, ce qui en fait un choix idéal pour ceux qui recherchent une technologie AFM de haute qualité.

 

Photos détaillées