• Tu as un test de stress hautement accélérés pour les semiconducteurs de chambre
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Tu as un test de stress hautement accélérés pour les semiconducteurs de chambre

After-sales Service: 24 Hours on Line Services
Power Supply: 220V
Certification: CE, ISO
Warranty: 1 Year
diamètre: 350/550 mm
profondeur: 450/650 mm

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Fabricant/Usine & Société Commerciale

Visite Virtuelle à 360

Membre Diamant Depuis 2013

Fournisseurs avec des licences commerciales vérifiées

Guangdong, Chine
Choix des acheteurs très fidèles
Plus de 50 % des acheteurs choisissent le fournisseur à plusieurs reprises
Capacités de R&D
Le fournisseur dispose de 21 ingénieurs R&D, vous pouvez consulter le Audit Report pour plus d'informations
Attestation de gestion
Le fournisseur possède une certification de système de gestion de la qualité, comprenant :
ISO9001:2015 certificate
ISO14001
ISO45001:2018 certificate
Certification du produit
Les produits du fournisseur possèdent déjà les qualifications de certification pertinentes, notamment :
CE
pour voir toutes les étiquettes de résistance vérifiées (27)
  • Aperçu
  • Description du produit
  • Paramètres du produit
  • Application du produit
  • Profil de la société
  • L′emballage et expédition
Aperçu

Info de Base.

N° de Modèle.
HAST
plage de température
+105ºc~+135ºc
plage d′humidité (contrôle de l′absence de saturation)
65 % hr à 100 %
plage d′humidité(contrôle de la saturation )
100 % hr
temps de pressurisation
pression normale ~200 kpa en 20 min
Paquet de Transport
Strong Plywood Case, Meet International Standards
Spécifications
Standard and Customized available
Marque Déposée
KOMEG
Origine
Dongguan, China
Code SH
90321000
Capacité de Production
1000 Sets Per Year

Description de Produit


Tu as un test de stress hautement accélérés pour les semiconducteurs de chambre

 
Description du produit


As Chambre, aussi connu comme le stress hautement accélérés Chambre d'essai, s'intègre à haute température, humidité élevée et haute pression. Cette chambre de M'AS nouvellement conçu est un nouveau produit lancé officiellement par KOMEG en 2023.  

Plus petite taille
Sécurité à la conception
Réduire le temps de test
Test et des  Semiconducteurs Microchip
Répond aux normes de tests multiples
Disponible en différentes capacités
Accepter la personnalisation

 
Paramètres du produit
Modèle No. KM-AS-35 KM-AS-55
La taille de l'intérieur (mm) Diamètre(φ) 350 550
La profondeur(D) 450 650
La taille de l'extérieur (mm) Largeur (W) 730 1150
La hauteur (H) 1630 1550
La profondeur(D) 1100 1400
Plage de température  +105ºC~+135ºC
Plage d'humidité 65%HR à 100 %(insaturation control)
100%HR (Saturation commande )
Plage de pression 0.05~0.3MPa
La jauge de pression : +0.2~200kPa
Pression absolue : 100 ~ 300 kPa
Variations de température ±  0,5 °C
Uniformité de température   3,0 °C
L'écart de température   ± 3,0 °C
Fluctuation de l'humidité ±3,0 % HR
Déviation d'humidité ±5,0 % HR
Déviation de pression   ± 2 kPa
Taux de chauffage   ±25º C~+135ºC dans un délai de 45 min
(En moyenne dans tout le processus) ( no-charge,pas de chauffage)
Temps de pressurisation La pression normale ~200kPa dans un délai de 20 min
L'alimentation  220V AC 1Ø 50Hz
Le bruit ≤68dB (1 mètre de distance à partir de la porte)
Dispositif de protection de la sécurité Onf(Pas de fusible disjoncteur), plus de pression, au cours de la chaleur et de protecteurs de surintensité pour compresseur, au cours de la température, au cours de la charge de protecteurs de protecteur de ventilateur, protecteur de la chaleur sèche,short de protecteur de l'eau
 
Application du produit

Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors

Profil de la société


Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors

Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors
L'emballage et expédition

Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors

Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors


 

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