• Microscope électronique de la numérisation
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Microscope électronique de la numérisation

Grossissement: 20X~150, 000X
Type: Vidéo
Nombre de cylindres: Scanning Electron Microscope
Mobilité: De Bureau
Effet stéréoscopique: Effet stéréoscopique
Kind of Light Source: Ultra-violet

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Info de Base.

N° de Modèle.
DJ-SEM150
Forme
Lentille de Tambour
Usage
Recherche
Principe
Optique
Principe de Optics
Microscope polarisant
nom du produit
microscope électronique à balayage dj-sem150
résolution
5 nm (30 kv, se image)
tension d′accélération
1 kv à 30 kv (1 kv/5 kv/10 kv/15 kv/20 kv/30 kv -6 pas)
détecteur
détecteur se, détecteur esb en option, seds, etc
traverse de phase
système 5 axes ou commande automatique
décalage de l′image
décalage de l′image x, y décalage de l′image (±150 μm)
Paquet de Transport
Wooden Case
Spécifications
460(W)*600(L)*950(H)mm
Marque Déposée
Dr. J Scientific
Origine
Jiangsu Wuxi
Code SH
9011800090
Capacité de Production
60

Description de Produit

Introduction générale :
Le maximum de grossissement de la DJ-SEM150 série SEM est 150,000 fois, et la résolution est jusqu'à 5Nm (SE, 30kV). Il est équipé d'SE (électron secondaire) détecteur et l'ESB (détecteur d'électrons rétrodiffusés). La plate-forme de charge peut être configuré avec trois axes (X, Y, R). La plate-forme de manuel peut également être mis à niveau pour une période de cinq axes (X, Y, R, Z, T) Plate-forme automatique. L'EDS Analyseur de spectre peuvent être configurés dans toutes les séries de produits. Les produits incluent les configurations suivantes :
 
Le point Modèle Avec l'option du détecteur Avec l'étape en option
Mini-SEM DJ-SEM150 DJ-SEM150S DJ-SEM150S-MS
DJ-SEM150D DJ-SEM150D-MS
DJ-SEM150D-ST
Electron Microscope Scanning
 
Description :
(1) Max 150.000de grossissement x
(2) La détection du signal : se détecteur détecteur + l'ESB
(3) Tension d'accélération:1kV à 30kV, des images de haute résolution, des images de haute résolution ;
(4) équipé de 4 diaphragmes à iris (30, 50, 50, 100 μm), qui peuvent fournir des images haute résolution en modifiant la taille de l'électron faisceau ;
(5) EDS est facultatif, pour l'analyse de composant
(6) échantillon CCD est facultatif de navigation
(7) Stade d'inclinaison de la configuration (0~90°) (facultatif)

Spécifications :
Résolution 5Nm (30kV,SE)
Le grossissement 20x~150.000x
Tension d'accélération 1~30kV
Le détecteur SE détecteur, en option détecteur d'ESB, EDS, etc.
Canon à électrons Cartouche pré centré filament de tungstène
Système de lentilles Focus Lens:2-phase condenseur lentille électromagnétique
La lentille : 1-scène de la lentille de électromagnétique
Étape 3 Système de l'axe X, axe des Y : 35mm / R-axe : 360°
En option l'étape de l'échantillon à 5 axes : X:40mm, Y:40mm, Z:40mm, 360°, R:T:0~90°
 Décalage image  Décalage image X, Y  Décalage image (±150UM)
Diaphragmes à iris Diaphragmes à iris réglable(30/50/50/100μm)
Échantillon de taille max. 80mm de diamètre, 35mm de hauteur
Système de balayage de l'image  Numérisation rapide:320*240 à   balayage lent : 640*480
 Le mode Photo de 1:1280*960    Mode Photo 2:   Mode Photo 2560*1920 3:5120*3840
Fonction automatique Démarrage auto,l'autofocus,Luminosité/Contraste auto
Format de l'image BMP, JPEG, PNG, TIFF
Affichage de données de l'image Le grossissement,type de détecteur,tension d'accélération,mode aspirateur,logo de(texte),Date et heure,texte marqueur,barre d'échelle
Le système de vide Mode d'aspiration élevée, la pompe mécanique, de la pompe moléculaire, de l'aspiration dans un délai de 3 minutes de temps :
Volume du périphérique 460(W)*600*950(l)(H)mm
Environnement de l'équipement Température:15ºC~30ºC , l'humidité:70 % ou moins
Source d'alimentation:  100~240unique de la phase V CA, 1KW, 50/60 Hz


L'emballage et expédition
Electron Microscope Scanning
Electron Microscope Scanning
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