• Microscopie électronique à balayage haute performance, SEM
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Microscopie électronique à balayage haute performance, SEM

Grossissement: 20X~150, 000X
Type: Vidéo
Nombre de cylindres: Scanning Electron Microscope
Mobilité: De Bureau
Effet stéréoscopique: Effet stéréoscopique
Kind of Light Source: Ultra-violet

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Info de Base.

N° de Modèle.
DJ-SEM150
Forme
Lentille de Tambour
Usage
Recherche
Principe
Optique
Principe de Optics
Microscope polarisant
nom du produit
microscope électronique à balayage dj-sem150
résolution
5 nm (30 kv, se image)
tension d′accélération
1 kv à 30 kv (1 kv/5 kv/10 kv/15 kv/20 kv/30 kv -6 pas)
détecteur
détecteur se, détecteur esb en option, seds, etc
traverse de phase
système 5 axes ou commande automatique
décalage de l′image
décalage de l′image x, y décalage de l′image (±150 μm)
Paquet de Transport
Wooden Case
Spécifications
460(W)*600(L)*950(H)mm
Marque Déposée
Dr. J Scientific
Origine
Jiangsu Wuxi
Code SH
9011800090
Capacité de Production
60

Description de Produit

Introduction générale :
L'agrandissement maximal du mes de la série DJ-SEM150 est de 150,000 fois et la résolution est de 5 nm (se, 30 kV). Il est équipé d'un détecteur se (électron secondaire) et d'un détecteur ESB (électron rétrodiffusé). La plate-forme de chargement peut être configurée avec trois axes (X, y, R). La plate-forme manuelle peut également être mise à niveau vers une plate-forme automatique à cinq axes (X, y, R, Z, T). L'analyseur de spectre EDS peut être configuré dans toutes les séries de produits. Les produits incluent les configurations suivantes :
 
Élément Modèle Avec option détecteur Avec option Stage
Mini-mes DJ-SEM150 DJ-SEM150S DJ-SEM150S-MS
DJ-SEM150D DJ-SEM150D-MS
DJ-SEM150D-ST
High Performance Scanning Electron Microscopy, Sem
 
Description :
(1) agrandissement max. 150 000 x
(2) détection du signal : détecteur se + détecteur ESB
(3) tension d'accélération : 1 kV à 30 kV, résolution d'image élevée, résolution d'image élevée ;
(4) équipés de 4 diaphragmes à iris (30, 50, 50, 100 μm), qui peuvent fournir des images haute résolution en modifiant la taille du faisceau d'électrons ;
(5) EDS est facultatif, pour l'analyse des composants
(6) la navigation des échantillons CCD est facultative
(7) Configuration de l'étage d'inclinaison (0 à 90°) (en option)

Caractéristiques :
Résolution 5 nm (30 kV, se)
Agrandissement 20 x à 150 000 x
Tension d'accélération 1 à 30 kV
Détecteur Détecteur se, détecteur ESB en option, EDS, etc
Canon à électrons Cartouche de filament en tungstène précentrée
Système d'objectif Objectif de mise au point : objectif à condensateur électromagnétique à 2 étapes
Objectif objectif objectif : objectif électromagnétique à 1 étape
Étape Système 3 axes, axe X, axe y : 35 mm / axe R : 360°
Platine d'échantillonnage 5 axes en option : x:40 mm, y:40 mm, Z:40 mm, R:360°, T:0~90°
 Décalage de l'image  Décalage de l'image X, y  décalage de l'image (±150 μm)
Diaphragmes de l'iris Diaphragmes à iris réglables (30/50/50/100 μm)
Taille d'échantillon max 80 mm de diamètre, 35 mm  de hauteur
Système de numérisation d'images Fast Scan:320*240  Slow Scan: 640*480
Mode photo  1:1280*960   mode photo  2:2560*1920  mode photo  3:5120*3840
Fonction automatique Démarrage automatique, mise au point automatique, luminosité/contraste automatique
Format d'image BMP, JPEG, PNG, TIFF
Affichage des données d'image Agrandissement,Type de détecteur,tension d'accélération,mode vide,logo(texte),Date et heure,marqueur textuel,barre d'échelle
Système de vide Mode vide élevé, pompe mécanique, pompe moléculaire, durée de vide : dans les 3 minutes
Volume du périphérique 460(L)*600(L)*950(H)MM
Environnement de l'équipement Température : 15 ºC~30 ºC , humidité : 70 % ou moins
Source d'alimentation : monophasé  100 à 240 V CA, 1 kW, 50 / 60 Hz


Emballage et expédition
High Performance Scanning Electron Microscopy, Sem
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2007-10-16
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ISO9001:2015