• Système de décapage par ions réactifs analyse de défaillance de la Rie ICP eBeam
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Système de décapage par ions réactifs analyse de défaillance de la Rie ICP eBeam

After-sales Service: 3 Year
Warranty: 1 Year
Type: Electrical Etching Machine
Object: Rie
Usage: Rie
Precision: High Precision

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Info de Base.

N° de Modèle.
MD150-RIE MD200-RIE MD200C-RIE
Condition
New
Marque Déposée
minder-hightech
Origine
China
Capacité de Production
100

Description de Produit

Système de gravure ionique réactif
RIE

Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp Ebeam

Matériaux appliqués :
Couche de passivation : SiO2, SiNx
Backsilicium
Couche adhésive : Havane
Trou traversant : W

Fonction :1. Décapage de la couche de passivation avec ou sans trous; 2. Décapage de la couche adhésive; 3. Gravure en silicone

Configuration du projet et schéma de structure de la machine

Élément MD150-RIE MD200-RIE MD200C-RIE
Taille du produit ≤6 pouces ≤8 pouces ≤8 pouces
Source d'alimentation RF 0-300W/500W/1000W réglable, correspondance automatique
Pompe moléculaire -/620(L/s)/1300(L/s)/personnalisé Antiseptique620(L/s)/1300(L/s)/personnalisé
Pompe de foreline Pompe mécanique/pompe à sec Pompe à sec
Pression du processus Pression non contrôlée/pression contrôlée 0-1Torr
Type de gaz H/CH4/O2/N2/AR/SF6/CF4/
CHF3/C4F8/NF3/PERSONNALISÉ
(Jusqu'à 9 canaux, pas de gaz corrosif et toxique)
H2/CH4/O2/N2/AR/F6/CF4/ CHF3/C4F8/NF3/Cl2/BCl3/HBr(jusqu'à 9 canaux)
Gamme de gaz 0 à 5 cm/50 cm/100 cm/200 cm/300 cm/500 cm/personnalisé
LoadLock Oui/non Oui
Contrôle de l'échantillon 10 °C~Room tem/-30 °C~100 °C/personnalisé -30°C~100°C /personnalisé
Refroidissement à l'hélium de retour Oui/non Oui
Traiter la garniture de cavité Oui/non Oui
Commande de paroi d'empreinte No/ProRoomtem~60/120°C. Pièce à 60/120°C.
Système de commande Auto/personnalisé
Matériau de gravure À base de silicium : si/SiO2/SiNx ···
IV-IV: SIC
Matériaux magnétiques/matériaux en alliage
Matériau métallique : ni/Cr/Al/au.....
Matière organique: PR/PMMA/HDMS/organique
film......
À base de silicium : si/SiO2/SiNx......
III-V(3) : INP/GaAs/GAN......
IV-IV: SIC
II-VI (3) : CdTe......
Matériaux magnétiques/matériaux en alliage
Matériau métallique : ni/Cr/A1/au......
Matière organique: PR/PMMA/HDMS /film organique...

Résultat du processus
Gravure de matériaux à base de silicium
Matériaux à base de silicium, motifs de nano-empreinte, matrice
motifs et gravure de motif de lentille
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp Ebeam

Gravure à température normale INP
Gravure de patrons de dispositifs à base d'InP utilisés dans la communication optique, y compris la structure de guide d'ondes, la structure de cavité résonnante, la structure de crête, etc
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp Ebeam

Décapage du matériau SIC
Adapté aux appareils à micro-ondes, aux appareils électriques, etc
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp Ebeam
Pulvérisation physique, gravure décapage du matériel organique
Il est appliqué à la gravure de matériaux difficiles à graver tels que certains métaux (comme le ni / Cr) et la céramique, et le décapage de la chatternede des matériaux est réalisé par bombardement physique. Il est utilisé pour la gravure et l'élimination des composés organiques Comme le photorésiste (PR)/PMMA/HDMS/polymère
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp EbeamMatériau du film cermet (au/ni/Cr/Al2O3)


Affichage des résultats de l'analyse des échecs
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp Ebeam
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp EbeamReactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp EbeamReactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp Ebeam
Spécification :
1. Empêcher les éclats de voler
2. Nœud minimum pouvant être traité : 14 nm ;
3. Taux de gravure SiO2/SiNx : 50 à 150 nm/min ;
4. Rugosité de surface gravée :<1 nm ;
5. Couche de passivation de support, couche d'adhésion et gravure de silicone de fond ;
6. Rapport de sélection Cu/Al : > 50
7. Appareil tout-en-un LxlxH: 1300mmX750mmX950mm
8. Prendre en charge l'exécution en un clic

Site du client :
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp EbeamReactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp EbeamReactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp EbeamReactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp EbeamReactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp EbeamReactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Icp Ebeam


 

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