• Microscope à Force Atomique afm1000 prix d′usine
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Microscope à Force Atomique afm1000 prix d′usine

Grossissement: 500-1000X
Type: Atomic Force Microscope
Nombre de cylindres: No
Mobilité: De Bureau
Effet stéréoscopique: Sans Effet stéréoscopique
Kind of Light Source: Laser

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Visite Virtuelle à 360

Membre Diamant Depuis 2015

Fournisseurs avec des licences commerciales vérifiées

Évaluation: 5.0/5
Fabricant/Usine, Société Commerciale, Société du Groupe

Info de Base.

N° de Modèle.
AFM1000
Forme
Boule, Hémisphère
Usage
Recherche
Principe
Optique
Principe de Optics
Laser Detection
élément
microscope à force atomique fm-nanoview 6800 afm6800
modes de fonctionnement
mode contact, mode de taraudage
plage d′acquisition max
x/y : 50 μm, z : 5 μm
résolution
x/y : 0.2 nm, z : 0,05 nm
angle de balayage
0 à 360
mouvement de l′échantillon
0 à 20 mm
largeur d′impulsion du moteur d′approche
10 ; 2 ms.
vitesse de balayage
0,6 Hz~4.34 Hz
contrôle de numérisation
xy : 18 bits d/a, z : 16 bits d/a
Paquet de Transport
1 Set/Sets
Spécifications
ISO
Marque Déposée
NANBEI
Origine
Henan, China (Mainland)
Code SH
9012100000
Capacité de Production
200 Set/Sets a Month

Description de Produit

Microscope à force atomique AFM1000 prix d'usine

Brève introduction de microscope à force atomique:
Microscope à force atomique (AFM), un instrument analytique qui peuvent être utilisées pour étudier la structure de surface de matériaux solides, y compris les isolants. Il étudie la structure de surface et les propriétés d'une substance par la détection de la extrêmement faibles interactions interatomiques entre la surface de l'échantillon à tester et d'un micro-force élément sensible. Sera une paire de force faible extrêmement sensible de micro-fin de cantilever fixe, l'autre extrémité de la petite astuce à proximité de l'échantillon, puis il va interagir avec lui, la force sera faire de la micro-déformation cantilever ou le mouvement change d'État. Lors de la numérisation de l'échantillon, le capteur peut être utilisé pour détecter ces changements, nous pouvons obtenir la distribution de la force d'informations, de manière à obtenir la morphologie de surface de la nano-informations de résolution et la rugosité de surface d'informations.

Caractéristiques de microscope à force atomique:
1.     Sonde de numérisation intégrée et l'échantillon stag a amélioré la capacité anti-parasite.
2    Laser de précision et le dispositif de positionnement de la sonde de faire changer la sonde et réglage de la place simple et commode.
3.   En  Utilisant  La  Sonde de prélèvement  Proche de  Manière, l'aiguille  Pourrait  Perpendiculaire à l'échantillon de  La numérisation.              
4.     Contrôle automatique de l'entraînement du moteur d'impulsion sonde de prélèvement de l'approche verticale, pour parvenir à un positionnement précis de la zone de numérisation.
5.     Exemple de zone de numérisation d'intérêt pourraient librement déplacé par l'aide de la conception de l'échantillon de haute précision appareil mobile.
6.     Système d'observation CCD avec positionnement optique permet d'observation en temps réel et le positionnement de la sonde zone de numérisation de l'échantillon.
7.     La conception de système de contrôle électronique de la modularisation facilité de maintenance et de l'amélioration continue du circuit.
8.     L'intégration de plusieurs circuit de commande de mode de numérisation, de coopérer avec le logiciel système.
9.       Suspension à ressort simple et pratique qui amélioré la capacité anti-parasite.

 
Le mode de travail FM-Tapping, le contact en option, la friction, , magnétique ou électrostatique de phase
Taille Φ≤90 mm, H≤20 mm
Scanningrange 20  Mmde XYdirection, 2  Mm en direction z.
Scanningresolution 0.2Nm en sens XY, 0, 05Nm dans le sens Z
Movementrange de l'échantillon ±6, 5 mm.
Largeur d'impulsion des  Approches du moteur 10±2ms
    Point d'échantillonnage de l'image 256×256, 512×512
Grossissement optique 4X
Résolution optique 2, 5  Mm
Taux de numérisation 0.6Hz~4.34Hz
Angle de balayage 0°~360°
Contrôle de numérisation 18-bit D/A dans le sens XY, 16-bit D/A dans le sens Z
Échantillonnage de données 14-bitA/D, double16 bits A/d'échantillonnage synchrone multi-canaux
La rétroaction Rétroaction numérique DSP
Taux d'échantillonnage de rétroaction 64.0KHz
Interface informatique USB2.0
Environnement de fonctionnement Windows98/2000/XP/7/8
Atomic Force Microscope Afm1000 Factory Price

FAQ      
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