Fournisseurs avec des licences commerciales vérifiées
Fournisseur Audité 
Une conductivité thermique plus élevée (T.C.) que celle du CCL commun, prolonge efficacement la durée de vie des produits électroniques.
| Élément | Méthode de test | Unité | FW806 | FW808 | FW810 | FW815 | FW820 |
| 0,6 W | 0,8 W. | 1,0 W. | 1,5W | 2,0 W. | |||
| Épaisseur de couche diélectrique | Après le découpage, mesurer au microscope | μm | 110-130 | 110-130 | 110-130 | 110-130 | 110-130 |
| Contrainte thermique | 288ºC±5ºC(180s) , | SEC | ≥ 120 | ≥ 120 | ≥ 120 | ≥ 120 | ≥ 120 |
| Résistance au pelage | IPC-TM-650-2.4.8.1 | N/mm | > 1.0 | > 1.0 | > 1.0 | > 1.0 | > 1.0 |
| Tension de fuite | 50 mm, courant ≤ 5 mA | KV | CA≥3 | CA≥3 | CA≥3 | CA≥3 | CA≥3 |
| 50 mm, courant ≤ 0,5 mA | KV | DC≥4 | DC≥4 | DC≥5 | DC≥5 | DC≥5 | |
| Tension de claquage | IPC-TM-650-2.5.6 | KV | CA≥5 | CA≥5 | CA≥5 | CA≥5 | CA≥5 |
| TG (DSC) | IPC-TM-650-2.4.25 | ºC | > 130 | > 130 | > 130 | > 130 | > 130 |
| (TMA) | IPC-TM-650-2.4.24 | % (50 À 260 ºC) | 0.5 | 0.5 | 0.5 | 0.5 | 0.5 |
| Conductivité thermique | Testeur de conductivité thermique | W/(M. K) | > 0.6 | > 0.8 | > 1.0 | > 1.3 | > 1.7 |
| Résistance thermique | Testeur de conductivité thermique | ºC/W | <0.8 | <0.7 | <0.55 | <0.5 | <0.4 |
| Feuille de cuivre | Après le découpage, mesurer au microscope | μm | 15±2,18±2,22±2,25±2, 33±3,35±3,70±6 |
||||
| Epaisseur du produit | Micromètre externe | mm | (Épaisseur)0.6-2.0 (tolérance):≥-0,12 | ||||
| Substrat d'aluminium | / | / | (Qualité aluminium): 1060/5052 | ||||
| Fonctionnalités | |||||||
| 1.(CCL), | |||||||
| Une conductivité thermique plus élevée (T.C.) que celle du CCL commun, prolonge efficacement la durée de vie des produits électroniques. | |||||||
| 2.;Propriétés machniques supérieures | |||||||
| 3.applications : LED, éclairages à LED, rétroéclairages, etc | |||||||
Fournisseurs avec des licences commerciales vérifiées
Fournisseur Audité 
