• Source du tableau de haute précision Unité de mesure S300 Machine de test pour les caractéristiques de l′appareil d′essais semi-conducteurs
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Source du tableau de haute précision Unité de mesure S300 Machine de test pour les caractéristiques de l′appareil d′essais semi-conducteurs

Service après-vente: 1 Year
Garantie: 1 Year
actuel: 10 pa~1 a.
tension: 30 μv~300 v.
interfaces de communication: rs-232/gpib/lan
précision: 0.1 %

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Info de Base.

N° de Modèle.
S300
puissance de sortie max
30 w
Paquet de Transport
1 PCS/Carton
Spécifications
106*255*425mm
Marque Déposée
Precise
Origine
China
Capacité de Production
50000PCS

Description de Produit

Description du produit

Introduction
Wuhan Instrument précis Co.,Ltd a été la création d'S mesure source de la série mètre pour de si nombreuses années.
La source de mesure de la fonction de compteur a la haute précision, une grande gamme dynamique, digital écran tactile, de fonctionnement à quatre quadrants, recueillir et d'entrée et sortie d'essai de tension et courant, pendant ce temps, la tension de sortie maximale 300 V, et courant de sortie minimum de 100pA.
Par conséquent, il est largement utilisé dans les caractéristiques électriques des tests.
 

Caractéristiques
8 pouces à écran tactile, opération de graphique
LIV,PIV tests rapidement des logiciels
Haute précision à 0,1 %
Fonctionnement à quatre quadrants, plage : 10pa~1A , 30uV~300V
Divers modes de numérisation, l'appui linéaire, exponentielle et de numérisation définis par l'utilisateur
Et l'exportation de stockage USB
Plusieurs interfaces de communication RS-232/GPIB/LAN
High Precision Table Source Measure Unit S300 Test Machine for Semiconductor Device Characteristics Testing

Les applications
Dispositif à semiconducteur test : résistance, diode, transistor, MOSFET, SiC, GaN, etc .
L'énergie et efficacité : la LED de test / AMOLED, de cellules solaires, convertisseurs DC-DC, etc .
Caractéristique : test du capteur de la résistivité, effet Hall, etc .
Les matières organiques test : encre électronique, imprimé de la technologie électronique, etc .
Test de nanomatériaux : le graphène, nanofils, etc .

Schéma de quatre quadrants
    
     S100                     S200                   S300

High Precision Table Source Measure Unit S300 Test Machine for Semiconductor Device Characteristics Testing
High Precision Table Source Measure Unit S300 Test Machine for Semiconductor Device Characteristics Testing
High Precision Table Source Measure Unit S300 Test Machine for Semiconductor Device Characteristics Testing


Capacités

 Puissance de sortie max. 30W,
Quatre sources ou puits de quadrant de fonctionnement
Limites de sources/puits ±30V (≤1A), de ±300V (≤100mA),
±1.05A (≤30 V), ±105mA (≤300V)
Dépassement  105% de la plage, la source et mesure
Sur la capacité de charge <22nF
Bruit (20 MHz) 2 mV rms, <20 mV Vp-p
Voltage  Guard Impédance de sortie 1 kΩ, Deflection-Voltage<80uV
Taux d'échantillonnage max. 1000 L'échantillon/s
Trigger I/O
Interface de communication RS-232,LAN,GPIB
L'alimentation AC100V~240V 50/60 Hz
 Coefficient de température 25±10 ºC
Longueur, largeur et hauteur 425mm 255mm L x W x 106mm H
Poids 5KG
La garantie 1 an


Précision de tension et courant : (différents modèles ont différentes  plages de tension et courant, veuillez consulter le guide de sélection )
 
La tension
 
Source
 
Mesurer
 
Gamme
 
Résolution de programmation La précision de ±(%  DGR.+ volts) Résolution de programmation La précision de ±(% DGR.+ volts)
300 mV 30uV 0,1 %±300uV 30uV 0,1 %±300uV
3V 300uV 0,1 %±500uV 300uV 0,1 %±500uV
30V 3mV 0,1 %±3mV 3mV 0,1 %±3mV
300V 30mV 0,1 %±30mV 30mV 0,1 %±30mV
Courant
 
Source
 
Mesurer
 
Gamme
 
Résolution de programmation La précision de ±(% DGR.+ D'UN) Résolution de programmation La précision de ±(% DGR.+ D'UN)
100nA 10pA 0,1 %±0.5nA 10pA 0,1 %±0.5nA
1uA 100 pA 0,1 %±3nA 100 pA 0,1 %±3nA
10uA 1nA 0,1 %±5nA 1nA 0,1 %±5nA
100uA 10nA 0,1 %±50nA 10nA 0,1 %±50nA
1 mA 100nA 0,1 %±300nA 100nA 0,1 %±300nA
10 mA 1uA 0,1 %±5uA 1uA 0,1 %±5uA
100mA 10uA 0,1 %±20uA 10uA 0,1 %±20uA
1A 100uA 0,1 % ± 2 mA 100uA 0,1 % ± 2 mA

 

Des photos détaillées
High Precision Table Source Measure Unit S300 Test Machine for Semiconductor Device Characteristics Testing
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High Precision Table Source Measure Unit S300 Test Machine for Semiconductor Device Characteristics Testing
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Profil de la société

Profil de la société

High Precision Table Source Measure Unit S300 Test Machine for Semiconductor Device Characteristics Testing
Créé en 2009, la technologie électronique précis de Wuhan Co., Ltd est une entreprise high-tech, de la recherche et de développer l'équipement de test automatique, appareil de communication optique de la production et de surveillance de ligne de programme de test.  Nous sommes une entreprise basée sur la technologie de l'intégration de la recherche et développement, production, ventes et services.  Entre-temps, R&D' équipe se compose de maîtres et les médecins, et la gestion, marketing, le service des équipes  sont composées de professionnels expérimentés
Produits précis comprennent :  puce,Bar,DE,l'OSA,modèle optique et BOB Ligne de production, etc.
 Les clients précis comprennent : Huawei, Hisilicon, Accelink, HG et véritable ZTE, Hisense, et
 Wuhan Instrument précis Co., Ltd est une filiale en propriété exclusive de la technologie électronique précis de Wuhan Co., Ltd.  situé dans le "Wuhan·Optics Valley de la Chine ", notre principal produit sont de  haute précision du compteur source numérique et le système, utilisé principalement dans le processus de test des dispositifs semi-conducteurs. Entre-temps, fournir les pilotes de matériel modulaire, efficace et l'algorithme logiciel pour aider les utilisateurs à créer des solutions personnalisées.
 

 

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