FM-Nanoview TAPPING Certificat ISO Microscope à Force Atomique
FM-flyingman Nanoview 1000 AFM Microscope à Force Atomique
description du produit
I. CARACTÉRISTIQUES
1. Tête de numérisation et de l' étape de l'échantillon sont conçus de concert, de solides performances anti-vibration
2. Laser de précision et de la sonde de détection de dispositif d'alignement laser faire simple et facile d'ajustement;
3. S'adapter servomoteur pour conduire l' échantillon approche Astuce manuellement ou automatiquement, afin de réaliser la précision de positionnement de la zone de numérisation.
4. Haute précision et large gamme dispositif de transfert de l'échantillon permet de numériser tout domaine intéressant de l' échantillon ;
5. Système d'observation optique pour vérifier et de l' échantillon de pointe de positionnement.
6. Système électronique est conçu comme modulaire et facile pour l' entretien et la poursuite du développement.
7. Adopter au printemps pour vibration isolation, simple et de bonnes performances.
II. Le logiciel
1. Deux types d' échantillonnage pixel pour choisir : 256×256, 512×512;
2. Exécuter la zone de numérisation de déplacer et de couper la fonction, choisissez une zone intéressante de l' échantillon;
3. Numérisation dans l'échantillon aléatoire au début de l'angle ;
4. Régler le système de détection de spot laser en temps réel ;
5. Choisir et de définir une couleur différente de la numérisation d'image dans la palette.
6. Moyenne linéaire de support et le calibrage en décalage en temps réel pour l' échantillon titre;
7. Calibrage de la sensibilité du scanner de soutien et le contrôleur électronique auto-calibrage;
8. L'appui de l'analyse hors ligne et le processus de l'image de l'échantillon.
paramètres du produit
III. Principaux paramètres techniques
| Le point |
Les données techniques |
Le point |
Les données techniques |
| Modes de fonctionnement |
Mode de contact, le mode de friction, étendue des modes de taraudage, phase, MFM, EFM. |
Angle de balayage |
Random |
| La taille des échantillons |
Φ≤90 mm,H≤20 mm |
Mouvement de l'échantillon |
0~20mm |
| Plage de balayage Max. |
X/Y : 20 um, Z : 2 um |
Largeur d'impulsion du moteur de l'approche |
10±2ms |
| Résolution |
X/Y : 0,2 nm, Z : 0,05Nm |
Système optique |
Le grossissement : 4x, résolution : 2,5 um |
| Taux de numérisation |
0.6Hz~4.34Hz |
Points de données |
256×256,512×512 |
| Contrôle de numérisation |
XY : 18-bit D/A, Z : 16-bit D/A |
Type de feedback |
Rétroaction numérique DSP |
| Échantillonnage de données |
Une de 14 bits A/D et double 16 bits A/D simultanément plusieurs canaux |
| La connexion PC |
USB2.0 |
Taux d'échantillonnage de rétroaction |
64.0KHz |
| Windows |
Compatible avec Windows98/2000/XP/7/8 |
FSM construit en 2013. Dans le passé de 9 ans, nous nous concentrons sur la réalisation d'instruments pour les laboratoires et usines.
Nous fournissons de microscope à force atomique pour l'éducation physique et wifer normale d'inspection.
Il est le meilleur ratio coût de l'AFM.
Des photos détaillées
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