• Appareil de test d′impact RAM basse température pour équipement de test IEC60884
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Appareil de test d′impact RAM basse température pour équipement de test IEC60884

Warranty: One Year
Max Diamètre de la pièce: <500mm
Champ d′application de masse de la pièce: <900 kg
Type: Plug & Socket Tester
Maxcapacity: 1000g
Précision année: 0,5

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Membre d'Or Depuis 2013

Fournisseurs avec des licences commerciales vérifiées

Évaluation: 5.0/5
Fabricant/Usine & Société Commerciale

Info de Base.

N° de Modèle.
ZLT-DCJ1
Charge Way
Charge mécanique
Méthode de chargement
Charge statique
Exposition
Aiguille
Contrôle
Contrôle manuel
Poids
0-100Kg
utilisation
déterminer la résistance mécanique du cordon isolé
certification
étalonnage des cna fourni
matériau
acier inoxydable
ma
1 pc
livraison
dans 20-25 jours
Paquet de Transport
in Plywood Carton
Spécifications
IEC60884-1 figure 27 and 42, IEC60811-1-4
Marque Déposée
ZLTJC
Origine
Guangzhou, Guangdong, China
Code SH
9031809090
Capacité de Production
Stock Available

Description de Produit

Appareil de test d'impact RAM basse température

Détails du produit : modèle ZLT-DCJ1 :

Pour déterminer la résistance mécanique des cordons isolés, câbles, coupleurs, manchons isolants de broches de fiche mâle et boîtiers dans le froid, conformément aux normes IEC60884-1, figure 27 et 42, IEC60811-1-4, figure 2, VDE0620, figure 28 et 41.

Tenue standard :

1 bloc en acier, hauteur 40 mm, largeur environ 200 mm, masse 10 kg,
2 colonnes, y compris la traverse supérieure avec vis de fixation,
1 tige de guidage, à trois arêtes, avec des bords légèrement arrondis, pour des hauteurs de chute jusqu'à 100 mm avec une hauteur maximale d'échantillon de 40 mm,
1 pièce intermédiaire en acier, masse 100 g, diamètre 20 mm, côté inférieur arrondi R=300 mm.
1 la masse du poids en chute est de (1 000 ± 2) g, hauteur d'impact : 10 à 250 mm.
2 pièces intermédiaires, en acier, masse 100 g, avec boulon de frappe de 20 mm et 6 mm de diamètre, pour les essais d'impact conformément à la norme IEC60884-1 Fig 27 et Fig 42.
Low Temperature RAM Impact Test Apparatus for IEC60884 Testing Equipment
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