Introduction
BSEM-320B est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il offre d'excellentes capacités de qualité d'imagerie en modes à vide élevé et faible. Il possède également une grande profondeur de champ avec une interface conviviale permettant aux utilisateurs de caractériser les spécimens et d'explorer le monde de l'imagerie et de l'analyse microscopiques.
Fonction
1. Basse tension
Échantillons de matériaux carbone avec une profondeur de pénétration faible à basse tension. La véritable topographie de la surface de l'échantillon peut être obtenue avec des détails riches.
L'irradiation du faisceau d'électrons du spécimen capillaire est réduite à basse tension, tandis que l'effet de charge est éliminé.
2. Extensibilité
Le BSEM-320 possède une grande chambre d'échantillonnage avec une interface étendue : SEM se\BSE\EDS\EDX\EBSD, etc
3. Grand champ de vision
Les échantillons biologiques, utilisant un large champ de vision d'observation, peuvent facilement obtenir les détails morphologiques globaux de la tête d'un coccinelle, démontrant ainsi la capacité d'imagerie à l'échelle transversale.
4. Navigation optique
Localise rapidement la région d'intérêt (ROI) ciblée. Cliquez sur l'endroit où vous voulez aller et voyez avec une navigation facile. Un appareil photo intégré est standard et peut prendre des photos HD pour faciliter la localisation rapide des échantillons.
5. Navigation rapide par geste
Navigation rapide en double-cliquant pour déplacer, bouton central de la souris pour faire glisser et cadre pour zoomer.
EXP : Zoom d'image : pour obtenir une vue large de l'échantillon avec une navigation à faible grossissement, vous pouvez cadrer rapidement la zone d'échantillon qui vous intéresse, l'image effectue automatiquement un zoom avant pour améliorer l'efficacité.
6. Image assistée par intelligence correction de l'astigmatisme
Affichez visuellement l'astigmatisme dans l'ensemble du champ de vision et réglez rapidement pour corriger en cliquant avec la souris.
7. Mise au point automatique
Mise au point à l'aide d'un seul bouton pour une imagerie rapide.
8. Stigmator automatique
Déduction pour astigmatisme en un clic pour améliorer l'efficacité du travail.
9. Luminosité et contraste automatiques
Luminosité et contraste automatiques en un clic pour régler les niveaux de gris des images appropriées.
10. Imagerie mixte (se + ESB)
Observez les informations topographiques de la composition et de la surface des échantillons sur une image. Le logiciel prend en charge le basculement en un clic entre se et ESB pour l'imagerie mixte. On peut observer en même temps des informations morphologiques et de composition de l'échantillon.
11. Réglage rapide de la rotation de l'image
Faites glisser une ligne et relâchez-la pour faire pivoter l'image vers la droite.
12. Système anti-collision
Une solution anti-collision multidirectionnelle :
Saisie manuelle de la hauteur de l'échantillon : contrôler avec précision la distance entre la surface de l'échantillon et la lentille de l'objectif.
Reconnaissance d'images et capture de mouvement : surveillez le mouvement de la scène en temps réel.
Matériel : arrêtez le moteur d'étage au moment de la collision. (Le BSEM-320A nécessite cette fonction en option)
13. Anode double (Tetrode)
La conception du système d'émission à double anode offre une excellente résolution sous faible énergie d'atterrissage.
14. Mode vide faible
Fournit des informations morphologiques de surface d'échantillon en mode vide faible, commutable d'un seul clic.
Les matériaux des tubes à fibres filtrées sont peu conducteurs et se chargent de manière significative dans le vide élevé. Dans le vide faible, l'observation directe des échantillons non conducteurs peut être réalisée sans revêtement.
Application
1. Semiconducteurs et composants électroniques.
2. Batteries et énergie nouvelle.
3. Matériaux polymères.
4. Produits chimiques.
5. Métal ETD.
6. Biologique.
7. Recherche fondamentale.
Spécifications
Remarque : * tenues standard, ○ en option.
Exemple d'image
