Analyse de diffraction multifonction XRD diffractomètre

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Info de Base

N° de Modèle.
CY-7200
Garantie
1 an
Méthode de détection
xrd
Avantage
Haute sensibilité
Principe
xrd
Les longueurs d'onde
Spectromètre UV
Dispersif Element
Spectromètre à Réseau
Nombre Lumière
Polychromateur
Certificat
RoHS, ISO9001, CE
Personnalisé
Personnalisé
plage de durée de service
175 nm ~ 800 nm
résolution (fwhm)
0,001 nm (à 313 nm)
arrêt de longueur d'onde
±0,001 nm
tube photomultiplicateur
r306 et un autre type
Paquet de Transport
carton
Spécifications
75cm*65cm*70cm
Marque Déposée
cyeeyo
Origine
Shan Dong
Code SH
9027500090
Capacité de Production
100

Description de Produit

                        
                    Diffractomètre XRD à analyse par diffraction multifonction Multi-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer



 1. Profil :
Il est conçu pour le contrôle de processus commercial et de qualité. Il s'agit d'une concentration de technologie de pointe de la production XRD, avec multi-fonction et miniaturisation. Il peut effectuer  des analyses qualitatives, quantitatives  et des analyses de structure cristalline sur des échantillons de métaux et non métalliques, en particulier pour les industries de catalyseur, de dioxyde de titane, de ciment et de pharmacie.
2. Performances de l'équipement :
  1. Le générateur de rayons X haute tension haute fréquence est plus stable, ce qui garantit la répétabilité des données.
  2. Le goniomètre θs, θd ARM adopte la technologie de commande de servomoteur et de codeur optique , ce qui permet au goniomètre de tourner plus facilement, la mesure de l'angle de diffraction est plus précise et la linéarité est meilleure. Dans la plage d'angle de diffraction, la linéarité de diffraction <0.02.
  3. Le dispositif de protection contre les rayons dispersés est plus sûr et plus fiable. Lors de la mesure d'échantillons, la porte de protection est automatiquement verrouillée pour éviter le rayonnement des personnes.
  4. Le CY-7200XRD adopte le tube à rayons X en céramique métallique le plus avancé, il a une longue durée de vie (3000 heures).
   5.la structure compacte peut être installée sur la plate-forme sans environnement de laboratoire spécial. Il est facile à utiliser et          entretien.
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer3. Application :
CY-7200XRD peut effectuer des   analyses qualitatives et quantitatives sur des matériaux polycristallins. Au cours de l'analyse qualitative, il identifiera la structure inconnue en comparant les données de mesure à la base de données de phase connue. Au cours de l'analyse quantitative, il peut décrire les caractéristiques du mélange solide, de façon à confirmer la teneur relative des composés cristallins ou de la phase non cristallisée.                                                                                                                                                                        
Mesure du contenu de l'amiante dans le mélange par CY-7200  
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer
Analyse de la structure de la médecine analogique des nucléotides par CY-7200
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer4. Paramètres :
Valeur nominale de service (tension du tube, courant du tube) 600 W (40 kV, 15 mA) stabilité : 0.005 %
Tube à rayons X. Tube à rayons X en céramique métallique, cible Cu, puissance 2,4 kW, taille focale : 1 x 10 mm ;
Goniomètre θs-θd , rayon de diffraction 150mm
Méthode de mesure Continu, pas à pas, guide d'utilisation et d'entretien
Plage de mesure angulaire Temps de fuite de l'encollage, θs/θd est de -3°~150°.  
Largeur de pas minimale 0.0001°
Reproductibilité angulaire 0.0001°
Mode d'entraînement technologie de commande de servomoteur + encodeur optique
Vitesse de positionnement de l'angle 1500°/min
Compteur Détecteur proportionnel fermé
   Résolution du spectre d'énergie <25 %
Taux de comptage linéaire max ≥5×105 cps (proportionnel)
Ordinateur Ordinateur portable Dell
Logiciels Logiciel de contrôle Système d'exploitation Windows 10 ; contrôle de la tension du tube, du courant du tube, de l'obturateur du générateur de rayons X et exécution automatique de la formation au vieillissement ; contrôle du goniomètre en continu ou par pas et collecte des données de diffraction ; exécution de routine : recherche automatique de pics, recherche manuelle de pics, intensité intégrée, hauteur de pic, cœur, Déduction de fond, lissage, amplification de forme de pic et comparaison de spectrogrammes, etc
Logiciel de traitement des données Analyse qualitative et quantitative des phases matérielles , Kα1 ,α2 Peeling, ajustement du spectre complet, ajustement des pics, calcul de la demi-largeur et de la taille du grain, mesure des cellules cristallines, calcul de contrainte de second type, indexation de la ligne de diffraction, tracé multiple, tracé 3D, étalonnage des données de diffraction, Soustraction de fond, analyse quantitative sans étalons, ajustement d'image spectrale complet (WPF), simulation d'image par diffraction XRD, etc
 Protection contre les rayonnements diffusés Protection en verre au plomb+, fenêtres d'obturation et tringlerie de protection, dose de rayonnement diffusée ne dépassant pas 1 μSv/h.
 Réglementation complète de l'instrument ≤1‰
Dimension globale 640×530×770(l×p×h)mm
5. Liste de configuration standard de CY-7200XRD :
Pièce Nom de l'élément Unité Qté Remarque
Générateur haute tension de rayons X. Générateur de rayons X haute fréquence XRD40*600 définir 1 Technologie solide
X27.06 câble haute tension (100 kVP) pièce 1 Longueur : 2.0 mètres
3311 manchon de tuyau définir 1  
Étage X25.02 (boîtier métallique) pièce 1 Protection en verre plomb+
Tube   à rayons X avec isolation en céramique métallique AS2910/24 pièce 1 Cible Cu, 2,4 kW


Système de goniomètre
Goniomètre AG-3511 définir 1 structure θ-θ
Porte-échantillon fendu et poudre pièce 1 1 jeu pour chaque
Plaque d'échantillonnage à montage traversant pièce 5 Matrice en aluminium
Plaque d'échantillonnage à trou borgne pièce 10 Matrice de quartz
Filtre pièce 1 Correspondance avec le matériau cible
Accessoires de réglage de la plaque fendue et du système d'éclairage définir 1  
Système d'enregistrement et de contrôle Détecteur proportionnel fermé définir 1 Câble de connexion inclus
Unité d'enregistrement et de contrôle définir 1  
Moteur et câble de communication pièce 1 2 câbles de moteur, 1 câble de communication
Bloc d'alimentation définir 1  
Système PC ORDINATEUR portable professionnel DELL définir 1 DELL
Contrôle du système et logiciels applicables Logiciel de programme de contrôle du diffractomètre série AL Définir
 
1 Windows 10
Logiciel de traitement de données et d'application définir 1 Jade 6
Base de données de diffraction définir 1 PDF2
Base de données Crystal structure définir 1 ICSD
Documents techniques MANUEL d'utilisation DE la série AL XRD copier 1  
Pièces de rechange Fusibles 1,1.5,2,2.5,3,3+(A) pièce 10 10 pièces pour chaque
Outils définir 1  
ф100mm mortar d'agate pièce 1  
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerLe diffractomètre à rayons X analyse les matériaux organiques inorganiques naturels ou synthétiques, largement utilisés dans le domaine des minéraux argileux, du ciment, des matériaux de construction, de la poussière environnementale, des produits chimiques, des produits pharmaceutiques, de l'amiante, de la roche, recherche sur les polymères.
la conception optique θ-θ basée sur la géométrie est facile pour la préparation des échantillons et L'installation de divers accessoires l'application de céramique métallique Le tube à rayons X a considérablement amélioré la puissance de fonctionnement du diffractomètre, en fermant le compteur proportionnel est durable et sans entretien
Le détecteur de dérive au silicium, avec une résolution angulaire et une résolution énergétique supérieures, permet d'augmenter la vitesse de mesure de plus de 3 fois les différents accessoires de diffractomètre répondent à différents besoins analytiques la conception modulaire, appelée composants plug-and-play, permet aux opérateurs d'utiliser avec précision les accessoires correspondants du diffractomètre, sans avoir besoin de calculer le système optique.

Multi-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerConvertisseur de système optique
La structure de la fente Sola peut être modifiée sans avoir à démonter le corps de la fente Sola. En raison de ce caractère, l'instrument, sans nécessiter de réajustement, peut atteindre le convertisseur entre le système optique de mise au point et le système optique horizontal.

Le logiciel de traitement des données comprend les fonctions suivantes

Fonctions de traitement de données de base (recherche de pics, lissage, soustraction de fond, ajustement de la forme de pics, agrandissement de la forme de pics, comparaison de spectres, K α 1, stripping α 2, indexation des lignes de diffraction );
Analyse quantitative rapide d'échantillons non standard
Mesure de la taille du cristal
Analyse de la structure cristalline (rmesure et affinement des paramètres des cellules cristallines)
Mesures de contrainte macroscopique et de contrainte microscopique
Affichage en deux dimensions et en trois dimensions de plusieurs dessins
Analyse de groupes de diagrammes de pics de diffraction
Courbe d'étalonnage de largeur de demi-pic des données de diffraction
Courbe de correction de déviation angulaire des données de déviation
Analyse quantitative conventionnelle basée sur Rietveld
Utilisez la base de données LCDd ou la base de données utilisateur pour effectuer une phase qualitative analyse
Utiliser la base de données ICDD ou ICDD pour effectuer une analyse quantitative
 

Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer

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Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer

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Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer

 

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