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DIFFRACTOMÈTRE à rayons X BIDIMENSIONNEL de bureau AL-Y500 analyse de structure de cristal Test de la diffraction des rayons X. Machine
Description
Le diffractomètre AL-Y500 est le dernier modèle de diffractomètre de table à rayons X bidimensionnels lancé par Langshuo. Il adopte une méthode de détection par caméra fixe, différente des diffractomètres traditionnels de type balayage. Le détecteur à semi-conducteur à compteur de photons de type réseau de rayons X permet d'activer les modes de compatibilité 0D, 1D et 2D pour les points, les lignes et les surfaces.
Il est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative d'échantillons polycristallins, y compris l'analyse quantitative sans échantillons de référence, la détermination de la cristallinité, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, la mesure de la taille du grain, Affinement de structure, analyse de micro-zone, analyse de contrainte de texture et de couche mince, etc. Elle s'applique à divers domaines et industries tels que les minéraux, les produits pharmaceutiques, les produits chimiques, les métaux et alliages, les matériaux de construction, nanomatériaux, piles, échantillons alimentaires, échantillons biologiques, etc
Fonctionnalités
1.le détecteur effectue des photographies fixes, qui sont différentes de l'instrument de diffraction de type scanning traditionnel. Le mode photographie est très efficace et rapide, environ 5-30 fois plus rapide que le mode de numérisation. Il convient pour l'analyse in situ et les informations de diffraction de tous les angles peuvent être recueillies simultanément. Il offre une résolution énergétique élevée, réduisant ainsi efficacement le bruit de fond de la fluorescence.
2.l'instrument de mesure d'angle θs et les bras θd adoptent le servomoteur et la technologie de contrôle de codage optique. Le détecteur peut effectuer un mouvement en double position le long de l'axe 2θ. La rotation de l'instrument de mesure d'angle est plus stable, la mesure de l'angle de diffraction est plus précise et la linéarité est meilleure. Lorsque l'échantillon pivote le long de l'axe θ, la précision du contrôle est de 0.01° et la précision de l'angle de l'axe 2θ est de ±0.02°.
3.les composants du détecteur sont composés de plusieurs détecteurs, qui sont uniformément répartis le long du cercle de diffraction et fournissent une couverture homogène pour tous les angles; les détecteurs à matrice plane à 21 plaques (ou 10 plaques à une couche) couvrent la plage 2θ : -3° à 150°. L'imagerie 2D est réalisée, recueillant simultanément des informations d'angle γ, des données de diffraction bidimensionnelle, et l'information est plus abondante.
4.détecteur semi-conducteur à comptage photonique planaire par rayons X, haute sensibilité, capable de comptage de photons unique, large plage dynamique, doubles seuils ; sources lumineuses de point et ligne interchangeables, combinant les géométries optiques Debye-Scherrer et BB, compatibles avec les échantillons plans et cylindriques, compatibles avec les modes 2D, 1D et OD du détecteur. De plus, il est très résistant aux rayonnements et offre une longue durée de vie.
5.le dispositif de protection contre la diffusion de la radiation est plus sûr et plus fiable. Pendant la mesure de l'échantillon, la porte de protection contre les rayonnements est automatiquement verrouillée, ce qui garantit que les opérateurs ne seront en aucun cas exposés aux rayonnements de diffusion.
6.la taille compacte permet de l'installer sur un banc expérimental, sans avoir besoin d'un environnement de laboratoire spécifique. Il est simple à utiliser, à utiliser et à entretenir.
DIFFRACTOMÈTRE à rayons X BIDIMENSIONNEL de bureau AL-Y500 analyse de structure de cristal Test de la diffraction des rayons X. Machine
Paramètre de produit
| Modèle | AL Y500 |
| Puissance de fonctionnement | 600 W. |
| Tension du tube | 15 - 40 kV, 1 kV/étape |
| Courant du tube | 5 - 15 mA, 1 mA/pas |
| Tube à rayons X. | Tube en céramique métallique, cible en cuivre (matériau cible en option) |
| Taille du foyer | 0.41×10 mm/1×10 mm (point/ligne interchangeable) |
| Stabilité de la tension du tube et du courant du tube | ≤0.01 % (fluctuation de la tension d'alimentation de 10 %) |
| Structure du goniomètre | Échantillon horizontal θs - θd |
| Rayon du cercle de diffraction | 150 mm |
| Plage de mesure | - 3° ~ 150° lorsque θs/θd est lié |
| θ - vitesse d'acquisition continue de l'axe | 0.125 - 30°/min |
| Mode de travail | Photographie segmentée/fixe |
| Angle de pas minimum | 0.0001° |
| 2θ répétabilité d'angle | ≤±0.001° |
| Précision de mesure | ≤±0.02° |
| Détecteur | Détecteur de comptage de photons unique en forme d'arc |
| Taille de pixel | 70×70 μm² |
| Taux de comptage linéaire maximal | 3×1000000cps/pixel |
| Résolution énergétique | 380eV |
| Stabilité complète de l'instrument | ≤0.2 % |
| Mesure du rayonnement diffusé | Protection plomb + verre, verrouillage porte - machine, ≤0,2 μSv/h. |
| Dimensions générales de l'hôte | 770×520×880mm |
